ic芯片卡动态弯曲测试机产品用途：用于检测磁条卡，ic芯片卡，集成电路卡，柔性电子标签等卡的弯曲和扭曲性能测试。
ic芯片卡动态弯曲测试机本仪器针对性ic卡在国标gb/t 16649.1，国标gb/t-17554.1-2006及iso10373和iso7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 符合以上标准。
ic芯片卡动态弯曲测试机技 术 参 数
1. 型号：mx-ic
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，总扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5hz
6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.长边小位移量为2mm±0.50mm
8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.长边小位移量为1mm±0.50mm
10.電 壓：ac220v±5%
11.外形尺寸：l670 x w380 x h220
12.功 率：35w
13.儀器重量：70kg
标准双向扭转：
长边弯曲工位数：5工位
短边弯曲工位数：5工位
双向扭转工位数：5工位