日本napson紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪ec-80产品特点一种简单的测量仪器，只需在探针之间插入样品即可进行测量在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换使用jog拨盘轻松设置测量条件*由于探头是固定的，因此您可以在购买前从几种类型的探头中选择一种。测量规格测量目标
半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，sic等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，dlc，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ito等）
硅基外延，离子与
半导体相关的注入样品化合物（gaas epi，gan epi，inp，ga等）
其他（*请与我们联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
日本napson紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪ec-80