德国mahr 马尔 maropto fi 1040 z 干涉仪
强大的 fizeau 干涉仪.
最小的测量不确定度和优异的灵活性及多功能性
非接触形状和轴前测量
maropto fi 1040 z 是一款功能强大的紧凑型干涉仪，孔径 40 mm，可以提供平面和球面以及波阵面非接触测量。
可以通过简单的干涉条纹检测、intelliphase 静态空间载波分析或标准相位盘来执行测量。maropto fi 1040 z 可提供现在的工业应用需要的灵活性和优异的性能。除表面测试光学组件外，还可以测量曲率和波阵面的半径。
尺寸小，方便集成到 oem 系统。因此能够以的实现准确的测量。干涉仪可用于水平和垂直方向。
我们产品的各种应用
小型光学元件的透射和表面测试
光学元件、车工零件、陶瓷、半导体和晶圆的测量
集成曲率半径测量