谷物粉降落值测定仪仪器原理

发布时间:2024-05-10
降落值测定仪仪器用途:
fn-ii降落值测定仪是测定谷物中*活性的仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物、尤其是小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的*仪器。用户可根据实际需要选择带打印和不带打印功能。
降落值测定仪仪器原理:
谷物粉(如小麦粉)的悬浮液在沸水浴中迅速糊化,并因其中α—*活性的不同而使糊化物的淀粉不同程度的被液化,液化程度不同,搅拌器在糊化物中下降速度不同,降落值的高低也就表明了相应的α—*活性的差异。降落值愈低表明α—*的活性愈高。降落值是以搅拌棒在糊化液自由下降一段特定高度所需的秒数来表示的。
降落值测定仪仪器特点:
1、采用微电脑控制,一键完成测试过程,无需人员看守。*故障自检功能。
2、面板人性化,简洁大方,触摸式按键,使用寿命长,测试过程窗口提示。
技术参数:(执行gb/t10361-2008《小麦、黑麦及其面粉、杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定法》标准)
搅拌棒重量: 25±0.05g
水浴桶加热管:600w
粘度管: 内径21±0.02mm
外径:23.8±0.25mm
内壁高:220±0.3mm
重复性:两次测定结果之差不得超过平均值的10%
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