接触测量式高精度薄膜测厚仪

发布时间:2024-05-06
drk203接触测量式高精度薄膜测厚仪,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。仪器适用于gb/t 6672标准。
drk203接触测量式高精度薄膜测厚仪,仪器适用标准如下:gb/t6672、gb/t451.3、gb/t6547、astmd645、astmd374、astmd1777。
【产品特点】1.接触式测量2.测头自动升降3.自动测量模式4.数据实时显示、自动统计、打印5.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差6.标准接触面积、标定压强7.标准量块标定测量参数
8.数据分析功能
【技术参数】1.测量范围:0~3mm2.分辨率:0.1μm精度:1级3.测量速度:5次/min(可调);测头移动速度:3mm/s(可调)
4.接触面积:28mm (直径6mm)非标可定制
注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。
山东德瑞克仪器股份有限公司自2004年成立以来始终秉承以技术创新成就企业价值的理念,不断推陈出新。坐落于济南时代总部基地,内设核心研发部,长期从事行业技术探索创新。同时公司与国内外高等院校及科研机构保持合作关系,互利共赢。
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