元器件的可靠性测试(下)
由于元器件制造水平不断提高，新型元器件不断出现，许多设计师还未能掌握新型元器件的使用方法，所以由于使用原因造成的失效在元器件失效中的比例居高不下，根据近年来国内外电子整机失效统计，由于在元器件使用方面造成的失效一直在50%上下浮动，这一严重事实已引起人们的普遍关注，提出了进 一步开展可靠性研究的迫切要求，作为一名电子工程技术人员，学习和研究元器件使用可靠性，已成为一项重要的使命。 随着电子科学的飞速发展，整机系统的性能越来越优异，功能越来越齐全，结构越来越复杂，所用元器件越来越多，元器件已从过去的基础技术，跃升为现代的核心技术。一代新型元器件的问世，预示着新一代整机系统的飞跃，没有高可靠的电子元器件，就没有高可靠高性能的大型电子系统。要保障整机系统的可靠性，就必须在整机研制过程中对元器件的质量进行控制。