[报告简介]
轻敲模式tapping afm-ir+是afm-ir技术（也称为pifm, pte and ptir）新检测模式，该技术通过探测afm微悬臂对样品光-热膨胀的响应信号，实现样品局域红外吸收信号的测量。
我们将现场演示：在10 nm空间分辨率下，对聚合物复合材料的化学组分进行纳米尺度红外成像，以及红外光谱和高光谱测量。
您将了解到neaspec如何实现：
☛ 无机械外力干扰下和无伪影信号的红外吸收谱测量
☛ 样品无损条件下，得到的优质数据
☛ 无需实操经验下即可获取高质量信号
[主讲人]
stefan mastel博士和sergiu amarie博士
[报告时间]
2020年10月15日（星期二） 11:00 pm-12:00 pm (cst)
[注册链接]
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