dedina曾对氢化物-原子吸收法中的干扰做了系统的分类，并指出，液相干扰产生在氢化物形成或形成的氢化物从样品溶液中逸出的过程中，是由于氢化物发生速度的改变（发生动力学干扰）或者是由于发生效率的改变，即转化为氢化物的百分比的改变而引起的。
气相干扰一般在氢化物传输过程中或在原子化器中产生，因为又可分为传输过程干扰和原子化器中的干扰。
传输过程中的干扰发生在氢化物从样品溶液到原子化器的途中，包括待测元素氢化物的传输速度（传输动力学干扰）和损失（传输效率干扰）所引起的干扰。
原子化器中的干扰包括自由基（主要是氢基）数量及待测元素原子的衰减所引起的干扰，其中产生自由基干扰的原因是干扰元素争夺自由基使其不够用来使待测元素原子化，产生待测元素衰减的原因是干扰元素加速了光路中游离的待测元素原子的衰减。
所谓“记忆性”干扰系指某种元素在造成前一次气相干扰之后，即使在以后的试液中不含该元素，干扰也继续存在，此即所谓“记忆”效应。dedina提出的氢化物法干扰是目前较为系统和细致的分离，这种分类方法原则上也适用于氢化物发生—原子荧光光谱法。