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供应stil位移传感器、stil轮廓仪。
stil位移传感器、stil轮廓仪公司简介：
stil位移传感器、stil轮廓仪公司成立于1993年，stil位移传感器、stil轮廓仪是基于光谱共焦原理制成的一款高、精、度位移传感器，分辨率可达到2nm。采样率达100hz-30khz。常用于测透明物体的厚度，如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析、表面轮廓分析、划痕测量、孔内径测量应用广，且精度高，不受表面材料的影响。stil位移传感器、stil轮廓仪在三维非接触式测量中有着前端的技 shu。 stil位移传感器、stil轮廓仪基于穿新的光学原理，能够测量任/何类型的材料，具有特/殊的精/确/度。 stil位移传感器、stil轮廓仪可应用在工业领域。计量或研究实验室内，将它作为高/精/密仪器，或者用作生产线的质量控制工具。工业环境使用时，由于 stil的简单的接口，能够与测量和检测设备集成。stil位移传感器、stil轮廓仪可以完成以下方面的工作：
1.粗糙度测量：
stil位移传感器、stil轮廓仪可测量几个纳 /米的粗糙度。获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很多，而且不会对表面造成划痕的风险。
2.轮廓&微观形貌：stil位移传感器、stil轮廓仪的3d扫描的接口，能够满 zu所you复杂对象的 2d和3d测量。精度可达亚wei米机。
3.厚度测量：
stil位移传感器、stil轮廓仪先 jin的光谱共焦成像原理，通过使用一个单一的传感器就能测量透明材料的厚度，而且具有很高的精度。可以从样品的一面直接测量。
4.水平面控制：
由于其非接触技shu， stil位移传感器、stil轮廓仪可以检测和测量液体的水平面。
5.振动：
由于高的测量频率和纳/米分辨率， stil位移传感器、stil轮廓仪传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计bi免了在测试时的干扰，并能测量和分析难/以访问的区域。
6.生产线检测：
stil位移传感器、stil轮廓仪能够用应用于生产线系统控制，是由于其高的测量速率和先 /进的接口与制造能力
产品范围：
stil控制器、sti l位移传感器、 stil轮廓仪、stil非接触位移传感器、stil光谱共焦位移传感器、s til三维形貌测量仪、stil光学笔、stil光纤电缆
主要型号：
stil initial系列：stil initial 0.4、stil initial e1.2、stil initial e1.2/90、stil initial 4.0、stil initial 12
cl2-mg140、endo 1.2、endo 1.2/90、cl4-mg35、cl5-mg35、mpls 180、chr150、chr150-l、cl1-mg210、cl1-mg140、cl2-mg210、cl2-mg140、cl2-mg70、cl3-mg140、cl3-mg70、cl4-mg35、cl4-mg20、cl5-mg35、cl5-mg20、cl6-mg35、cl6-mg20、vcx50、vcx250
以上说明了供应德国stil位移传感器产品优质供应商。