xau-4cs元素分析仪 膜厚分析仪性能优势：
1.微小样品检测：*小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
3.的efp算法：li(3)-u(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可*测量。
4.*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。
5.高性能探测器：sdd
xau-4cs元素分析仪 膜厚分析仪技术参数
测量面积：*小0.03mm²
镀层分析：23层镀层24种元素
仪器特点：rohs卤素有害元素检测
仪器优势：同元素不同层分析
仪器简介：
xau-4cs是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的光谱分析仪，采用了下照式c型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。
应用核心efp算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区rohs检测及成分分析。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数：
1.成分分析范围：铝（al）- 铀（u）
2.成分*低检出限：1ppm
3.涂镀层分析范围：锂（li）- 铀（u）
4.涂镀层*低检出限：0.005μm
5.*小测量直径□0.1*0.3mm（*小测量面积0.03mm²）
标配：*小测量直径0.3mm（*小测量面积0.07mm²）
6.对焦距离：0-30mm
7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
9.仪器重量：45kg
10.xy轴工作台移动范围：50mm*50mm
11.xy轴工作台*承重：5kg
多元迭代efp核心算法（号：2017sr567637）
*的研发团队在alpha和fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出efp核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如ni/fe、ag/cu等
多涂镀层应用：如au/ni/fe、ag/pb/zn等
合金镀层应用：如znni/fe、znal/ni/cu等
合金成分应用：如nip/fe，通过efp算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可*分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可*测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb，*层ni和第三层ni的厚度均可测量。
有害元素检测：rohs检测，可满足铅（pb）、汞（hg）、镉（cd）、六价铬（cr vi）等有害元素的成分检测及含量分析
选择四大理由：
1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保rohs-成分分析）
2.*小测量面积0.002mm²
3.可检测凹槽0-30mm的异形件
4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测