ic卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡，ic芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。
ic卡动态弯曲双向扭试验机简介：本仪器针对性ic卡在国标gb/t 16649.1，国标gb/t-17554.1-2006及iso10373和iso7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;*符合以上标准。
ic卡动态弯曲双向扭试验机技 术 参 数
1.型号：mx-ic
2.扭曲度：±15°±1°雙向d=86 mm
3.正反向各15°，总扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5hz
6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.长边小位移量为2mm±0.50mm
8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.长边小位移量为1mm±0.50mm
10.電壓：ac220v±5%
11.外形尺寸：l670 x w380 x h220
12.功率：35w
13.儀器重量：70kg
根据客户要求订制：双向扭转大工位数：10工位